Reis, S.; Metzger, A.; Pohl, K.:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest.
In: Informatik 2006 - Informatik für Menschen - Workshop Modellbasiertes Testen (Dresden, Oktober 2006). Lecture Notes in Informatics (LNI) / Hochberger, C.; Liskowsky, R. (Hrsg.). - Bonn: Gesellschaft für Informatik, 2006, S. 264 - 265
Buchaufsatz/Kapitel in Sammelwerk2006Wirtschaftswissenschaften
Titel:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest.
Autor(in):
Reis, S.; Metzger, A.LSF; Pohl, K.LSF
Erscheinungsjahr
2006
Erschienen in:
Titel:
Informatik 2006 - Informatik für Menschen - Workshop Modellbasiertes Testen (Dresden, Oktober 2006). Lecture Notes in Informatics (LNI)
Herausgeber(in):
Hochberger, C.; Liskowsky, R.
Erscheinungsort
Bonn
Verlag
Gesellschaft für Informatik
Erscheinungsjahr
2006
in:
S. 264 - 265

Abstract:

Mit Hilfe eines Integrationstests wird das korrekte Zusammenspiel der Komponenten eines integrierten Teilsystems überprüft. Die für den Integrationstest ausgewählten Testfallszenarien haben einen erheblichen Einfluss auf den Testaufwand, z.B. aufgrund der Anzahl erforderlicher Platzhalter und Treiber. Es existieren keine Ansätze zur Testfallableitung, die den zu erwartenden Testaufwand beim Integrationstest mit mehreren Kriterien berücksichtigen. In diesem Beitrag geben wir einen Überblick über eine Technik, mit deren Hilfe Integrationstestfallszenarien generiert werden können, die neben der Abdeckung der Interaktionen zwischen integrierten Komponenten den zu erwartenden Testaufwand durch benutzerdefinierte Optimierungskriterien minimieren.