Reis, S.; Metzger, Andreas; Pohl, K.:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
In: Informatik 2006 - Informatik für Menschen / Hochberger, Christian; Liskowsky, R. (Hrsg.). - Informatik 2006 - Informatik für Menschen : 2. - 6. Oktober 2006 in Dresden. 2 - Bonn: Gesellschaft für Informatik, 2006, S. 264 - 265
2006Buchaufsatz/Kapitel in Tagungsband
Wirtschaftswissenschaften
Titel in Deutsch:
Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest
Autor*in:
Reis, S.;Metzger, AndreasUDE
GND
129831530
LSF ID
12274
ORCID
0000-0002-4808-8297ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Pohl, K.UDE
GND
135789125
LSF ID
5105
ORCID
0000-0003-2199-5257ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Sprache des Textes:
Deutsch