Antiferromagnetic layer thickness dependence of the IrMn/Co exchange-bias system

Ali, Mannan; Marrows, Christopher H.; Al-Jawad, Maisoon; Hickey, Bryan J.; Misra, Arkajyoti; Nowak, Ulrich; Usadel, Klaus:

In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 68 (2003), Heft 21, S. 214420 (7 Seiten)

2003Artikel/Aufsatz in Zeitschrift

Physik (inkl. Astronomie)

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Titel:

Antiferromagnetic layer thickness dependence of the IrMn/Co exchange-bias system

Autor*in:

Ali, Mannan;Marrows, Christopher H.;Al-Jawad, Maisoon;Hickey, Bryan J.;Misra, Arkajyoti;Nowak, Ulrich;Usadel, Klaus^UDE

Erscheinungsjahr:

2003

DOI

Erschienen in

Erscheinungsort:

College Park

Verlag:

American Physical Society (APS)

in:

Jg. 68 (2003), Heft 21, S. 214420 (7 Seiten)

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Signatur der UB:

Notiz:

1.1970 - 92.2015

Nachfolger:

Universitätsbibliographie