Characterization of atom and ion-induced "internal" electron emission by thin film tunnel junctions
In: Nuclear instruments & methods in physics research / Section B, Beam interactions with materials and atoms, Jg. 269 (2011) ; Nr. 11, S. 1185–1189
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Chemie
Fakultät für Chemie » Physikalische Chemie
Signatur der Zeitschrift: D30/67 Z 78
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