Cavalleri, Andrea; Siders, Craig W.; Rose-Petruck, Christoph G.; Jimenez, Ralph; Tóth, Csaba; Squier, J.A.; Barty, Christopher P.P.; Wilson, Kent R.; Sokolowski-Tinten, Klaus; Horn-von Hoegen, Michael; von der Linde, Dietrich:
Ultrafast x-ray measurement of laser heating in semiconductors: Parameters determining the melting threshold"
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 63 (2001), Heft 19, 193306 (4p)
2001Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel:
Ultrafast x-ray measurement of laser heating in semiconductors: Parameters determining the melting threshold"
Autor*in:
Cavalleri, Andrea;Siders, Craig W.;Rose-Petruck, Christoph G.;Jimenez, Ralph;Tóth, Csaba;Squier, J.A.;Barty, Christopher P.P.;Wilson, Kent R.;Sokolowski-Tinten, KlausUDE
GND
172725364
LSF ID
13459
ORCID
0000-0002-7979-5357ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Horn-von Hoegen, MichaelUDE
GND
1201039908
LSF ID
10366
ORCID
0000-0003-0324-3457ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
von der Linde, DietrichUDE
GND
121993092X
LSF ID
10402
ORCID
0000-0001-5618-3879ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2001

Abstract:

The pulse-width dependence of thermal melting and ablation thresholds in germanium and gallium arsenide is correlated to direct, ultrafast x-ray measurements of laser-heated depths. The heating dynamics, determined by the interplay of nonlinear optical absorption, delayed Auger heating, and high-density carrier diffusion, explain the scaling laws of thermal melting thresholds in different semiconductors.