Kammler, Martin; Horn-von Hoegen, Michael:
Low energy electron diffraction of epitaxial growth of bismuth on Si(111)
In: Surface Science, Jg. 576 (2005), Heft 1-3, S. 56 - 60
2005Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Low energy electron diffraction of epitaxial growth of bismuth on Si(111)
Autor*in:
Kammler, MartinUDE
LSF ID
50189
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
korrespondierende*r Autor*in
;
Horn-von Hoegen, MichaelUDE
GND
1201039908
LSF ID
10366
ORCID
0000-0003-0324-3457ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2005
Sprache des Textes:
Englisch