Thien, Dagmar; Kury, Peter; Horn-von Hoegen, Michael; Meyer zu Heringdorf, Frank; van Heys, J.; Lindenblatt, M.; Pehlke, E.:
Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy
2007
In: Physical review letters, Jg. 99 (2007), Heft 19, 196102 (4p)
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Physik
Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy
Autor(in):
Thien, Dagmar im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Kury, Peter; Horn-von Hoegen, Michael im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Meyer zu Heringdorf, Frank im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; van Heys, J.; Lindenblatt, M.; Pehlke, E.
Erscheinungsjahr
2007
Erschienen in:
Physical review letters, Jg. 99 (2007), Heft 19, 196102 (4p)
ISSN
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