Thien, Dagmar; Kury, Peter; Horn-von Hoegen, Michael; Meyer zu Heringdorf, Frank; van Heys, J.; Lindenblatt, M.; Pehlke, E.:

Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy

In: Physical review letters, Jg. 99 (2007) ; Nr. 19, S. 196102 (4p)
ISSN: 0031-9007, 1079-7114
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Physik
Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CeNIDE)