Thien, Dagmar; Kury, Peter; Horn-von Hoegen, Michael; Meyer zu Heringdorf, Frank; van Heys, J.; Lindenblatt, M.; Pehlke, E.:
Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy
2007
In: Physical review letters, Jg. 99 (2007), Heft 19, 196102 (4p)
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift2007Physik
Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Domain Sensitive Contrast in Photoelectron Emission Microscopy
Autor(in):
Thien, DagmarLSF; Kury, Peter; Horn-von Hoegen, MichaelLSF; Meyer zu Heringdorf, FrankLSF; van Heys, J.; Lindenblatt, M.; Pehlke, E.
Erscheinungsjahr
2007
DOI: