Jnawali, Giriraj; Hattab, Hichem; Bobisch, Christian A.; Bernhart, Alexander M.; Zubkov, E.; Möller, Rolf; Horn-von Hoegen, Michael:
Nanoscale dislocation patterning in Bi(1 1 1)/Si(0 0 1) heteroepitaxy
In: Surface Science, Jg. 603 (2009), Heft 13, S. 2057 - 2061
2009Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)Fakultät für Physik » ExperimentalphysikForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Nanoscale dislocation patterning in Bi(1 1 1)/Si(0 0 1) heteroepitaxy
Autor*in:
Jnawali, GirirajUDE
LSF ID
10417
ORCID
0000-0003-0954-8614ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
korrespondierende*r Autor*in
;
Hattab, HichemUDE
LSF ID
49259
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Bobisch, Christian A.UDE
LSF ID
10408
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Bernhart, Alexander M.UDE
LSF ID
49933
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Zubkov, E.
;
Möller, RolfUDE
GND
1252401639
LSF ID
10359
ORCID
0000-0003-1924-8615ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Horn-von Hoegen, MichaelUDE
GND
1201039908
LSF ID
10366
ORCID
0000-0003-0324-3457ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2009
Scopus ID
Sprache des Textes:
Englisch