Jnawali, Giriraj; Hattab, Hichem; Bobisch, Christian; Bernhart, Alexander; Zubkov, E.; Möller, Rolf; Horn-von Hoegen, Michael:
Nanoscale dislocation patterning in Bi(1 1 1)/Si(0 0 1) heteroepitaxy
2009
In: Surface science, Jg. 603 (2009), Heft 13, S. 2057 - 2061
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift2009Physik
Fakultät für Physik » Experimentalphysik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Nanoscale dislocation patterning in Bi(1 1 1)/Si(0 0 1) heteroepitaxy
Autor(in):
Jnawali, GirirajLSF; Hattab, HichemLSF; Bobisch, ChristianLSF; Bernhart, AlexanderLSF; Zubkov, E.; Möller, RolfLSF; Horn-von Hoegen, MichaelLSF
Erscheinungsjahr
2009
DOI: