Plümel, Ingo; Wiggers, Hartmut; Lorke, Axel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
2006
In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Band 99 (2006), S. 68 - 73
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Maschinenbau
Titel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
Autor(in):
Plümel, Ingo im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Wiggers, Hartmut im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Lorke, Axel im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr
2006
Erschienen in:
Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Band 99 (2006), S. 68 - 73
ISSN
Signatur der UB
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