Plümel, Ingo; Wiggers, Hartmut; Lorke, Axel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
2006
In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Band 99 (2006), S. 68 - 73
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift2006Maschinenbau
Titel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
Autor(in):
Plümel, IngoLSF; Wiggers, HartmutLSF; Lorke, AxelLSF
Erscheinungsjahr
2006
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