In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Band 99 (2006), S. 68 - 73
2006Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Maschinenbau
Titel:
In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie
Autor*in:
Plümel, IngoUDE
- LSF ID
- 10016
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 172637171
- LSF ID
- 1643
- ORCID
- 0000-0001-8487-9937
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
- GND
- 1042619697
- LSF ID
- 2509
- ORCID
- 0000-0002-0405-7720
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2006
WWW URL: