In-situ Charakterisierung der elektronischen Eigenschaften von Si-Nanopartikeln mittels Impedanzspektroskopie

In: Technische Mitteilungen, Organ des Haus der Technik e.V, Jg. 99 (2006), S. 68-73
ISSN: 0040-1439
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Maschinenbau

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