Wiggers, Hartmut; Hülser, Tim-Patrick; Kennedy, Marcus; Kruis, Frank Einar; Fissan, Heinz; Lorke, Axel; Roth, Paul:
Electrical Properties of Nanocrystalline SnO2 Thin Film Sensors Investigated with Impedance Spectroscopy
In: Emerging applications in electronics, optoelectronics, energy and sensors : Chemical Nanotechnology Talks IV ; 01 - 02 October 2003, DECHEMA-Building, Frankfurt am Main - Frankfurt/Main, 2003
Buchaufsatz/Kapitel in Sammelwerk / Fach: Maschinenbau
Titel:
Electrical Properties of Nanocrystalline SnO2 Thin Film Sensors Investigated with Impedance Spectroscopy
Autor(in):
Wiggers, Hartmut im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Hülser, Tim-Patrick im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Kennedy, Marcus im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Kruis, Frank Einar im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Fissan, Heinz im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Lorke, Axel im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Roth, Paul im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr
2003
Erschienen in:
Emerging applications in electronics, optoelectronics, energy and sensors : Chemical Nanotechnology Talks IV ; 01 - 02 October 2003, DECHEMA-Building, Frankfurt am Main - Frankfurt/Main, 2003