Niesar, Sabrina; Stegner, Andre R.; Pereira, Rui N.; Hoeb, Maximilian; Wiggers, Hartmut; Brandt, Martin; Stutzmann, Martin:
Defect reduction in silicon nanoparticles by low-temperature vacuum annealing
In: Applied Physics Letters (APL), Jg. 96 (2010), Heft 19, S. 193112
2010Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaschinenbauForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Defect reduction in silicon nanoparticles by low-temperature vacuum annealing
Autor*in:
Niesar, Sabrina;Stegner, Andre R.;Pereira, Rui N.;Hoeb, Maximilian;Wiggers, HartmutUDE
GND
172637171
LSF ID
1643
ORCID
0000-0001-8487-9937ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Brandt, Martin;Stutzmann, Martin
Erscheinungsjahr:
2010
Sprache des Textes:
Englisch