Defect reduction in silicon nanoparticles by low-temperature vacuum annealing
In: Applied Physics Letters (APL), Jg. 96 (2010), Heft 19, S. 193112
2010Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaschinenbauForschungszentren » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Defect reduction in silicon nanoparticles by low-temperature vacuum annealing
Autor*in:
Niesar, Sabrina;Stegner, Andre R.;Pereira, Rui N.;Hoeb, Maximilian;Wiggers, HartmutUDE
- GND
- 172637171
- LSF ID
- 1643
- ORCID
- 0000-0001-8487-9937
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2010
Sprache des Textes:
Englisch