Mertin, Wolfgang:
Contactless probing of high-frequency electrical signals with scanning probe microscopy
In: 2002 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : June 2 - 7, 2002, Washington (Vol. 3) / Hamilton, Rob (Hrsg.). - Piscataway, NJ: IEEE, 2002, S. 1493 - 1496
Buchaufsatz/Kapitel in Sammelwerk2002ElektrotechnikPhysikMaterialtechnik
Titel:
Contactless probing of high-frequency electrical signals with scanning probe microscopy
Autor(in):
Mertin, WolfgangLSF
Erscheinungsjahr
2002
Erschienen in:
Titel:
2002 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : June 2 - 7, 2002, Washington (Vol. 3)
Herausgeber(in):
Hamilton, Rob
Erscheinungsort
Piscataway, NJ
Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2002
in:
S. 1493 - 1496
ISBN: