Contactless probing of high-frequency electrical signals with scanning probe microscopy

In: 2002 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : June 2 - 7, 2002, Washington (Vol. 3) / Hamilton, Rob (Hrsg.)
Piscataway, NJ: IEEE (2002), S. 1493-1496
ISBN: 0-7803-7239-5
Buchaufsatz / Kapitel / Fach: Elektrotechnik; Physik; Materialtechnik

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