Mertin, Wolfgang:
Contactless probing of high-frequency electrical signals with scanning probe microscopy
In: 2002 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : June 2 - 7, 2002, Washington (Vol. 3) / Hamilton, Rob (Hrsg.). - Piscataway, NJ: IEEE, 2002, S. 1493 - 1496
Buchaufsatz/Kapitel in Sammelwerk / Fach: Elektrotechnik; Physik; Materialtechnik
Titel:
Contactless probing of high-frequency electrical signals with scanning probe microscopy
Autor(in):
Mertin, Wolfgang im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr
2002
Erschienen in:
2002 IEEE MTT-S International Microwave Symposium digest : June 2 - 7, 2002, Washington (Vol. 3) / Hamilton, Rob (Hrsg.). - Piscataway, NJ: IEEE, 2002, S. 1493 - 1496
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