Neinhüs, Marcus; Weber, Rainer; Behnke, Ulf; Mertin, Wolfgang; Kubalek, Erich; Breil, Raimund; Detje, Martin; Feltz, Albrecht:
Contactless current and voltage measurements in integrated circuits via a needle sensor
In: Microelectronics Reliability, Jg. Vol. 42 (2002), Heft 9-11, S. 1695 - 1700
2002Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
ElektrotechnikPhysik (inkl. Astronomie)Materialtechnik
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel:
Contactless current and voltage measurements in integrated circuits via a needle sensor
Autor*in:
Neinhüs, Marcus;Weber, Rainer;Behnke, UlfUDE
LSF ID
1456
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Mertin, WolfgangUDE
LSF ID
1452
ORCID
0000-0001-6792-6033ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Kubalek, ErichUDE
LSF ID
1175
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Breil, Raimund;Detje, Martin;Feltz, Albrecht
Erscheinungsjahr:
2002
Erschienen in
Microelectronics Reliability
Titel in Englisch (abgekürzt):
Microelectron Reliab
Erscheinungsort:
Amsterdam
Verlag:
Elsevier
in:
Jg. Vol. 42 (2002), Heft 9-11, S. 1695 - 1700
ISSN
0026-2714 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1872-941X Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2022028-5
Ressourcentyp:
Text