Wittpahl, Volker; Ney, Christian; Behnke, Ulf; Mertin, Wolfgang; Kubalek, Erich:
Quantitative high frequency-electric force microscope testing of monolithic microwave integrated circuits at 20 GHz
1999
In: Microelectronics Relability, Jg. Vol. 39 (1999), Heft 6-7, S. 951 - 956
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Elektrotechnik; Physik; Materialtechnik
Titel:
Quantitative high frequency-electric force microscope testing of monolithic microwave integrated circuits at 20 GHz
Autor(in):
Wittpahl, Volker im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Ney, Christian; Behnke, Ulf im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Mertin, Wolfgang im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Kubalek, Erich im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr:
1999
Erschienen in:
Microelectronics Relability, Jg. Vol. 39 (1999), Heft 6-7, S. 951 - 956
ISSN: