Blekker, Kai; Münstermann, Benjamin; Matiss, Andreas; Do, Quoc-Thai; Regolin, Ingo; Brockerhoff, Wolfgang; Prost, Werner; Tegude, Franz-Josef:
High-Frequency Measurements on InAs Nanowire Field-Effect Transistors using Coplanar Waveguide Contacts
2010
In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 9 (2010), Heft 4, S. 432 - 437
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Elektrotechnik
Titel:
High-Frequency Measurements on InAs Nanowire Field-Effect Transistors using Coplanar Waveguide Contacts
Autor(in):
Blekker, Kai im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Münstermann, Benjamin im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Matiss, Andreas; Do, Quoc-Thai; Regolin, Ingo; Brockerhoff, Wolfgang im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Prost, Werner im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Tegude, Franz-Josef im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr:
2010
Erschienen in:
IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 9 (2010), Heft 4, S. 432 - 437
ISSN: