Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang; Bacher, Gerd; Furitsch, Michael; Brüderl, Georg; Härle, Volker:

Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy

In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 41 (2008) ; Nr. 13, S. 135115 (5 pages)
ISSN: 0022-3727, 1361-6463
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Elektrotechnik; Physik; Materialtechnik

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