Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang; Bacher, Gerd; Furitsch, Michael; Brüderl, Georg; Härle, Volker:
Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy
2008
In: Journal of physics. D, Applied physics, Jg. 41 (2008), Heft 13, S. 135115 (5 Seiten)
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Elektrotechnik; Physik; Materialtechnik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy
Autor(in):
Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Bacher, Gerd im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Furitsch, Michael; Brüderl, Georg; Härle, Volker
Erscheinungsjahr
2008
Erschienen in:
Journal of physics. D, Applied physics, Jg. 41 (2008), Heft 13, S. 135115 (5 Seiten)
ISSN
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DOI
Signatur der UB