Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang; Bacher, Gerd; Furitsch, Michael; Brüderl, Georg; Härle, Volker:
Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy
2008
In: Journal of physics. D, Applied physics, Jg. 41 (2008), Heft 13, S. 135115 (5 Seiten)
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift2008ElektrotechnikPhysikMaterialtechnik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Microscopic investigation of InGaN/GaN heterostructure laser diode degradation using Kelvin probe force microscopy
Autor(in):
Lochthofen, André; Mertin, WolfgangLSF; Bacher, GerdLSF; Furitsch, Michael; Brüderl, Georg; Härle, Volker
Erscheinungsjahr
2008
DOI: