Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang; Bacher, Gerd; Hoeppel, Lutz; Bader, Stefan; Off, Johannes; Hahn, Berthold:

Electrical investigation of V-defects in GaN using Kelvin probe and conductive atomic force microscopy

In: Applied Physics Letters, Jg. 93 (2008) ; Nr. 2, S. 022107 (3 pages)
ISSN: 0003-6951, 1077-3118
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Elektrotechnik; Physik; Materialtechnik
Signatur der Zeitschrift: D30/67 A 21

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