Lochthofen, André; Mertin, Wolfgang; Bacher, Gerd; Hoeppel, Lutz; Bader, Stefan; Off, Johannes; Hahn, Berthold:
Electrical investigation of V-defects in GaN using Kelvin probe and conductive atomic force microscopy
2008
In: Applied physics letters, Jg. 93 (2008), Heft 2, S. 022107 (3 Seiten)
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift2008ElektrotechnikPhysikMaterialtechnik
Zentrale wissenschaftliche Einrichtungen » Center for Nanointegration Duisburg-Essen (CENIDE)
Titel:
Electrical investigation of V-defects in GaN using Kelvin probe and conductive atomic force microscopy
Autor(in):
Lochthofen, André; Mertin, WolfgangLSF; Bacher, GerdLSF; Hoeppel, Lutz; Bader, Stefan; Off, Johannes; Hahn, Berthold
Erscheinungsjahr
2008
DOI: