Yang, Huinan; Greszik, Daniel; Dreier, Thomas; Schulz, Christof:
Simultaneous measurement of liquid water film thickness and vapor temperature using near-infrared tunable diode laser spectroscopy
In: Applied Physics B : Lasers and Optics, Jg. 99 (2010), Heft 3, S. 385 - 390
2010Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
MaschinenbauFakultät für Ingenieurwissenschaften » Maschinenbau und Verfahrenstechnik » Institut für Energie- und Material-Prozesse (EMPI)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Simultaneous measurement of liquid water film thickness and vapor temperature using near-infrared tunable diode laser spectroscopy
Autor*in:
Yang, HuinanUDE
LSF ID
50301
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Greszik, DanielUDE
LSF ID
49366
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Dreier, ThomasUDE
LSF ID
47223
ORCID
0000-0001-8313-4992ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Schulz, ChristofUDE
GND
1148037985
LSF ID
48807
ORCID
0000-0002-6879-4826ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2010
DOI
10.1007/s00340-010-3980-3
Scopus ID
77955869146
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
Applied Physics B : Lasers and Optics
Titel in Englisch (abgekürzt):
Appl Phys B
Erscheinungsort:
Berlin
Verlag:
Springer
in:
Jg. 99 (2010), Heft 3, S. 385 - 390
ISSN
0946-2171 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1432-0649 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0721-7269 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
1458437-2
Notiz:
Ab 26.1981-