Jerman, Martin; Qiao, Zhaohui; Mergel, Dieter:
Refractive index of thin films of SiO2, ZrO2, and HfO2 as a function of the films' mass density
2005
In: Applied Optics, Jg. 44 (2005), Heft 15, S. 3006 - 3012
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Physik
Titel:
Refractive index of thin films of SiO2, ZrO2, and HfO2 as a function of the films' mass density
Autor(in):
Jerman, Martin im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Qiao, Zhaohui; Mergel, Dieter im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr:
2005
Erschienen in:
Applied Optics, Jg. 44 (2005), Heft 15, S. 3006 - 3012
ISSN:
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Signatur der UB: