Goal-directed, adaptive identification of IC bond inspection

In: Mustererkennung 1990 : 12. DAGM-Symposium, Oberkochen-Aalen, 24.-26. September 1990, Proceedings / Großkopf, Rudolf E. (Hrsg.)
Berlin: Springer (1990), S. 571-578
ISBN: 3-540-53172-6
Buchaufsatz / Kapitel / Fach: Informatik

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