Krause, M.R.; Stollenwerk, A.J.; Reed, J.; LaBella, V.P.; Hortamani, M.; Kratzer, Peter; Scheffler, M.:
Electronic structure changes of Si(001)(2_1) from subsurface Mn observed by STM.
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Band 75 (2007), S. 205326
2007Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel:
Electronic structure changes of Si(001)(2_1) from subsurface Mn observed by STM.
Autor*in:
Krause, M.R.;Stollenwerk, A.J.;Reed, J.;LaBella, V.P.;Hortamani, M.;Kratzer, PeterUDE
GND
105650420
LSF ID
14826
ORCID
0000-0001-5947-1366ORCID iD
ORCID
0000-0003-4790-4616ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Scheffler, M.
Erscheinungsjahr:
2007