Davies, Patrick Laurie; Gather, U.; Meise, Monika; Mergel, Dieter; Mildenberger, T.:
Residual Based Localisation and Quantification of Peaks in X-Ray Diffractograms.
2008
In: Annals of Applied Statistics, 2, S. 861 - 886
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Mathematik
Titel:
Residual Based Localisation and Quantification of Peaks in X-Ray Diffractograms.
Autor(in):
Davies, Patrick Laurie im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Gather, U.; Meise, Monika im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Mergel, Dieter im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Mildenberger, T.
Erscheinungsjahr:
2008
Erschienen in:
Annals of Applied Statistics, 2, S. 861 - 886