Davies, Patrick Laurie; Meise, Monika:
Residual based localization and quantification of peaks in x-ray diffractograms
2008
In: Annals of Applied Statistics, Jg. 2 (2008), Heft 3, S. 861 - 886
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Mathematik
Titel:
Residual based localization and quantification of peaks in x-ray diffractograms
Autor(in):
Davies, Patrick Laurie im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Meise, Monika im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen
Erscheinungsjahr:
2008
Erschienen in:
Annals of Applied Statistics, Jg. 2 (2008), Heft 3, S. 861 - 886