Stetter, U.; Farle, Michael; Baberschke, K.; Clark, W.G.:
Critical behavior of strained epitaxial Gd films: In situ ac-susceptiblity measurements in UHV.
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Band 45 (1992), S. 503 - 506
1992Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel:
Critical behavior of strained epitaxial Gd films: In situ ac-susceptiblity measurements in UHV.
Autor*in:
Stetter, U.;Farle, MichaelUDE
GND
1029383219
LSF ID
3560
ORCID
0000-0002-1864-3261ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Baberschke, K.;Clark, W.G.
Erscheinungsjahr:
1992