Evalluation fo active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and fiite element simulations.
In: J. Phys. IV France, Band 125 (2005), S. 117
2005Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Titel:
Evalluation fo active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and fiite element simulations.
Autor*in:
Nzodoum Fotsing, J.L.;Dietzel, D.;Chotikaprakhan, S.;Meckenstock, RalfUDE
- LSF ID
- 46939
- Sonstiges
- der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2005