Nzodoum Fotsing, J.L.; Dietzel, D.; Chotikaprakhan, S.; Meckenstock, Ralf; Pelzl, J.; Cassette, S.:
Evalluation fo active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and fiite element simulations.
In: J. Phys. IV France, Band 125 (2005), S. 117
2005Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Titel:
Evalluation fo active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and fiite element simulations.
Autor*in:
Nzodoum Fotsing, J.L.;Dietzel, D.;Chotikaprakhan, S.;Meckenstock, RalfUDE
LSF ID
46939
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Pelzl, J.;Cassette, S.
Erscheinungsjahr:
2005