Nzodoum Fotsing, J.L.; Dietzel, D.; Chotikaprakhan, S.; Meckenstock, Ralf; Pelzl, J.; Cassette, S.:

Evalluation fo active semiconductor structures by combined scanning thermo-elastic microscopy and fiite element simulations.

In: J. Phys. IV France, Jg. 125 (2005), S. 117
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Physik
Signatur der Zeitschrift: D30/67 A 21

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