Klein, C.; Ramchal, R.; Schmid, A.K.; Farle, Michael:

Direct imaging of spin-reorientation transitions in ultrathin Ni films by spin-polarized low-energy electron microscopy.

In: Surface and Interface Analysis, Jg. 38 (2006) ; Nr. 12-13, S. 1550-1553
Zeitschriftenaufsatz / Fach: Physik

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