Stahlmecke, Burkhard; Dumpich, Günter:
Influence of the Electron Beam on Electromigration Measurements within a Scanning Electron Microscope.
2007
In: Applied Physics Letters, Band 90 (2007), S. 043517
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Physik
Titel:
Influence of the Electron Beam on Electromigration Measurements within a Scanning Electron Microscope.
Autor(in):
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Erscheinungsjahr
2007
Erschienen in:
Applied Physics Letters, Band 90 (2007), S. 043517
ISSN
Signatur der UB