Wende, Heiko; Chauvistre, R.; Haack, N.; Ceballos, G.; Wilhelm, F.; Baberschke, K.; Srivastava, P.; Arvanitis, D.:
Surface EXAFS study of the p4g(2 x 2) reconstruction of C on Ni(100) and C on Ni films
2000
In: SURFACE SCIENCE, Jg. 465 (2000), Heft 3, S. 187 - 197
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift2000Physik
Titel:
Surface EXAFS study of the p4g(2 x 2) reconstruction of C on Ni(100) and C on Ni films
Autor(in):
Wende, HeikoLSF; Chauvistre, R.; Haack, N.; Ceballos, G.; Wilhelm, F.; Baberschke, K.; Srivastava, P.; Arvanitis, D.
Erscheinungsjahr
2000