Freeland, J.w.; Chakarian, V.; Bussmann, K.; Idzerda, Y.u.; Wende, Heiko; Kao, C.c.:
Exploring magnetic roughness in CoFe thin films : Part 2
1998
In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 83 (1998), Heft 11, S. 6290 - 6292
Artikel/Aufsatz in Zeitschrift / Fach: Physik
Titel:
Exploring magnetic roughness in CoFe thin films : Part 2
Autor(in):
Freeland, J.w.; Chakarian, V.; Bussmann, K.; Idzerda, Y.u.; Wende, Heiko im Online-Personal- und -Vorlesungsverzeichnis LSF anzeigen; Kao, C.c.
Erscheinungsjahr:
1998
Erschienen in:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, Jg. 83 (1998), Heft 11, S. 6290 - 6292
ISSN: