Srivastava, P.; Haack, N.; Wende, Heiko; Chauvistre, R.; Baberschke, K.:
Modifications of the electronic structure of Ni/Cu(001) as a function of the film thickness
In: Physical Review B : Condensed matter and materials physics, Jg. 56 (1997), Heft 8, S. R4398 - R4401
1997Artikel/Aufsatz in Zeitschrift
Physik (inkl. Astronomie)
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
Modifications of the electronic structure of Ni/Cu(001) as a function of the film thickness
Autor*in:
Srivastava, P.
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;
Haack, N.;Wende, HeikoUDE
GND
12115226X
LSF ID
47290
ORCID
0000-0001-8395-3541ORCID iD
ORCID
0000-0002-2301-4670ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;
Chauvistre, R.;Baberschke, K.
Erscheinungsjahr:
1997
Sprache des Textes:
Englisch