FT-Ellipsometrie an anodischen Oxidschichten auf Aluminium

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In der vorliegenden Dissertation werden anodische Oxidschichten auf Aluminium mit Hilfe der FT-IR-Spektrometrie charakterisiert. Hierbei werden die Methoden der gerichteten Reflexion und der FT-IR-Ellipsometrie eingesetzt. Der Schwerpunkt der Untersuchungen liegt auf der physikalisch-chemischen Charakterisierung der anodischen Schichten. Es wird ein optisches Modell entwickelt auf dessen Basis die optischen Konstanten, der Brechungsindex n und der Absorptionskoeffizient k, der anodischen Schichten ermittelt werden. In the present thesis anodic layers on Aluminium are characterised by FT-IR-Spectrometry. FT-IR-Ellipsometry and specular reflection and are used. The main emphasis is put on the physical-chemical characterisation of the anodic layers. An optical model is developed. On the basis of this model the optical constants, the refractive index n and the absorption coefficient k, are determined.
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Dokumententyp:
Wissenschaftliche Abschlussarbeiten » Dissertation
Fakultät / Institut:
Fakultät für Chemie
Dewey Dezimal-Klassifikation:
500 Naturwissenschaften und Mathematik » 540 Chemie
Stichwörter:
FT-IR-Ellipsometrie, Aluminium, refractive index, absorption coefficient, anodic layers, optical constants, specular reflection, optische Konstanten, gerichtete Reflexion, FT-IR-Spektrometrie, Anodische Oxidschichten
Beitragende:
Prof. Dr. Molt, Karl [Betreuer(in), Doktorvater]
Prof. Dr. Golloch, Alfred [Gutachter(in), Rezensent(in)]
Sprache:
Deutsch
Kollektion / Status:
Dissertationen / Dokument veröffentlicht
Datum der Promotion:
09.12.1998
Dokument erstellt am:
09.12.1998
Dateien geändert am:
17.10.2006
Medientyp:
Text